}
 }
 
-/* Define some generic bad / good block scan pattern which are used
- * while scanning a device for factory marked good / bad blocks. */
-static uint8_t scan_ff_pattern[] = { 0xff, 0xff };
-
-static struct nand_bbt_descr smallpage_memorybased = {
-       .options = NAND_BBT_SCAN2NDPAGE,
-       .offs = 5,
-       .len = 1,
-       .pattern = scan_ff_pattern
-};
-
 static int __init mxcnd_probe(struct platform_device *pdev)
 {
        struct nand_chip *this;
                goto escan;
        }
 
-       if (mtd->writesize == 2048) {
-               host->pagesize_2k = 1;
-               this->badblock_pattern = &smallpage_memorybased;
-       }
+       host->pagesize_2k = (mtd->writesize == 2048) ? 1 : 0;
 
        if (this->ecc.mode == NAND_ECC_HW) {
                switch (mtd->oobsize) {