]> www.infradead.org Git - mtd-www.git/commitdiff
UBIFS: amend power-cuts test count
authorArtem Bityutskiy <Artem.Bityutskiy@nokia.com>
Tue, 9 Jun 2009 08:49:54 +0000 (11:49 +0300)
committerArtem Bityutskiy <Artem.Bityutskiy@nokia.com>
Tue, 9 Jun 2009 08:49:54 +0000 (11:49 +0300)
Signed-off-by: Artem Bityutskiy <Artem.Bityutskiy@nokia.com>
faq/ubifs.xml

index 72dd19d706d69fcced4724767b4560ff0d7ba73c..8750a1274cd22a730d0d8b4ad543e69e57e27578 100644 (file)
@@ -805,7 +805,7 @@ system at those moments is very low in real-life.</p>
 
 <p>Real power-cut tests have also been done on OneNAND flash. We used Power
 Node devices which are controlled via serial line and may switch the power of
-the connected device on and off. UBIFS survived more than 20000 power-cuts
+the connected device on and off. UBIFS survived more than 100000 power-cuts
 while running stress tests.</p>
 
 <p>UBIFS authors not tested UBIFS well on NOR, though. And there is a known